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幾何量學儀器設備校準
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高度卡尺校準中提到它是用來測量制件表面高度位置和精密劃線的量具。其主要結構形式分別為游標高度卡尺、帶表高度卡尺和數顯高度卡尺。
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更新時間：2024-11-25
廠商性質：工程商
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